布鲁克 NPFLEX-1000三维光学轮廓仪

落地式 NPFLEX-1000 白光干涉（WLI）测量系统为精密制造业带来了***的灵活性、测量能力和性能，从而理解和控制制造过程。

该系统采用开放式龙门架设计，具有300mm 的样品台与目镜间距，因此能够在各种形状和尺寸的样品上轻松测量微观及宏观特征。全新的一键***查找表面? 通过结合自动对焦和自动照明，消除了在每次测量之前手动聚焦表面的需要，从而提升用户体验，并减少测量时间。

解决专业应用的表面独立计量方案

具有大尺寸龙门架结构的 NPFLEX-1000 让非专业用户也能快速获得高质量结果。开放式坚固的桥梁结构、旋转测头和多功能物镜选项结合，提供了的样本尺寸自由度和测量大坡度表面的能力。
NPFLEX-1000 的灵活性旨在解决汽车、医疗和大型增材制造等领域精密加工中 QA/QC 部门的粗糙度和表面纹理测量问题。其中一些 QA/QC 研究包括：

·腐蚀监测
鉴别并统计腐蚀斑
定量可视化测量宽度、深度、体积
监测表面形貌变化

·微导程角测量
确定密封件的泄露行为
测量全局导程角，导程角的大小、方向，频率，柱面角等
确保密封件在高温环境下的耐久性

·磨损与寿命预测
定量材料体积损失随时间的变化
测量峰、谷比例
理解磨损方向

·气缸表面纹理
分析侧壁粗糙度，理解活塞运动实现内壁缝合
测量内壁织构的角度

·齿轮法兰粗糙度
分析接触区域定量

分析磨损体积检查

处理表面行为

·表面光洁度质量控制
测量表面纹理
与表面特性相关联
支持加工过程的控制

·凸轮印迹分析
检查凸轮轴凸角是否有颤动
测量凸轮印迹的周期
理解界面表面纹理与零件性能或者失效的关系

特点

超大尺寸和表面斜率兼容性简化了样品准备过程，并增加了每个部件可测量表面的范围
***的易用性使任何经验级别的操作员都能获得专家级的结果
超快的自动化测量和分析程序缩短了结果时间
高度坚固的桥梁结构和集成的隔振系统可提供生产环境下的长期精度和可靠性

实际使用的优势

开放式样品加载和直观的分析软件能够以亚微米分辨率表征表面纹理、光洁度、粗糙度、曲率、斜率和许多其他参数。
材料宽容―― 反射率从 0.05% 到 ***，表面纹理从平坦到粗糙
高度自动―― 就绪、完全可定制的测量和分析流程
自校准―― 精度和再现性

落 地 式 ContourX-1000 白 光 干 涉（WLI） 系 统 集 成 了Bruker 在 硬 件 和 软 件 上 的 最 新 技 术， 可 用 于 全 自 动 三维表面纹理和粗糙度测量。
全新的一键式***寻找表面（Advanced Find Surface ）功能结合自动聚焦和自动照明功能，无需每次测量前手动查找样品表面，***提升了用户体验且缩短测量时间。结合自适应测量模式 USI 和简洁的引导式VisionXpress操作界面，ContourX-1000 在任何表面，任何操作人员，甚至多用户高负荷的生产设备下都可提供不***扣的***测量。

特点：

·可倾斜 / 俯仰光学头、双光源和***的自动化功能可提供快速、灵活的生产车间内测量。
·自校准激光和集成的防震台可确保极高的测量准确性和可靠性。
·提供的测量和分析软件带有简洁且有引导性的程序和模式，更大程度的方便用户使用。

光学轮廓分析设备硬件设计的***

ContourX-1000 集成有 Bruker 的倾斜 / 俯仰光学头，***的双光源、自动化的物镜转盘和样品台，以及可选配的晶圆卡盘。这些创新可为几乎所有的在研发和生产中的应用提供快速且***的解决方案，包括有难度的表面和深沟槽结构。

技术参数

强大的自动化测量和分析的***

全局扫描干涉 (USI) 自适应测量模式可自动确定***的测量参数，即使在几十微米尺度内也可确保纳米级分辨率。 
简洁的且带有引导性的 VisionXpress交互界面可去除操作人员经验水平的影响，快速得到测试结果。
即使在多用户环境中，每个使用者都可通过***查找表面功能，自动聚焦功能和自动照明调整功能获取高 质 量 的 结 果。 使 用 全 套 兼 容 的软件包，从SureV***n和多区域分析 到 Vision64 Map  和 膜 测 量，ContourX-1000 都 可 提 供 全 方 位 的测量来满足您特定的应用需求。

测量准确性与鲁棒性的基准

除 拥 有 Bruker 独 有 干 涉 技 术 无与 伦 比 的 测 量 和 成 像 能 力 之 外，ContourX-1000 还 配 备 了 专 属 的 内部参考激光和防震台以获取的稳定性和与其他工具的匹配能力。
即使在嘈杂的环境中，该系统也能确保测量性能。